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Mess- und Handlingsysteme

Für unsere Kunden entwickeln und bauen wir komplette Messplätze und Handlingsysteme für die Entwicklung und die Fertigung elektronischer, vor allem optoelektronischer Bauteile und Produkte. Je nach Anforderung und Durchsatz erstellen wir Handarbeitsplätze, halbautomatische oder vollautomatische Anlagen, wobei wir von der Mechanik über die Elektronik und Embedded-Software bis zur PC-Software alles im eigenen Haus entwickeln.
Daneben arbeiten wir auch mit Herstellern von Standardequipment für die Halbleiterindustrie zusammen. Damit können wir trotz kurzer Lieferzeiten technisch einwandfreie und wirtschaftlich optimale Lösungen bieten.

Bei den hier aufgeführten Beispielen werden die jeweiligen Besonderheiten herausgestellt. Mit diesem reichen Erfahrungsschatz sind wir in der Lage, auch für schwierige Aufgaben Lösungen anzubieten. Insgesamt haben wir bisher etwa 50 derartiger Projekte durchgeführt. In Klammern stehen unserer Projekt-Bezeichnungen.

Automat zur Prüfung von Lasern PUTS
System zur Kontaktierung von DIMM-Modulen
Steuerung für LED-Gurter
Zusätze für Wafer-Prober
Sensor-Vermessung (ALBA, IRIS, PREA und andere)
SONET (OC48)
Puls-Laser (PL90)
MOST ® Sender und Empfänger (OBIM)
Rattle-Factor (RAFA)
IR-Empfänger (SFH)

Automat zur Prüfung von Lasern

Automatisierter Messplatz zur Vermessung von Laserdioden. Die technischen Herausforderungen liegen in der exakten Positionierung (±1µm) sowohl der Prüflinge, als auch eines temporär eingebrachten Rückkoppelspiegels.

• Automatische Lageerkennung der Prüflinge über Bildverarbeitung.
• Exakte Bauteil-Positionierung und Kontaktierung über präzise motorgesteuerte Achssysteme.
• Aktive XY Positionierung eines Rückkoppelspiegels über Piezo-Translatoren mit µm-Genauigkeit.
  Aktive Ausrichtung des Spiegels auf optimale Position mit maximaler optischen Leistung.
• Positioniergenauigkeit: ±1µm
• Temperierung der Prüflinge mittels TECs im Bereich von 20°C bis 60°C.
• Durchführung von optischen Messungen entlang des Strahlwegs (Z). Messung erfolgt on-fly mit synchronisierter Positionskorrektur (XY).
• Lesen des auf den Prüflingen aufgebrachten 2D-Codes über Bildverarbeitungssystem.
• DLL-Interface für 32bit-Windows zur Integration des Handling-Systems in übergeordnete Messapplikation

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System zur Kontaktierung von Speicherbausteinen

Dieses System dient zur Kontaktierung von DIMM-Speichermodulen mit speziellen Testköpfen zur Durchführung von Clock Skew und Jitter Messungen.

• Positionierung in X, Y, Z-Richtung, zusätzliche Rotation des Testkopfs.
• Drehtisch für Modulaufnahme zur Messung der Vorder- und Rückseite.
• Ermittlung der Modul-Position über Bildverarbeitungssystem.
• Automatisierter Austausch der Testköpfe, integriertes Magazin mit verschiedenen Testköpfen.
• Erkennung der Testköpfe über RFID.
• Datenbanken für verschiedene Modultypen und Messköpfe.
• DLL-Interface für 32bit-Windows zur Integration in fremde Analysesysteme

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Steuerung für LED-Gurter

System zum Gurten und Sortieren von LEDs. Für dieses System hat die Firma BAUER Engineering GmbH die elektronischen Komponenten, sowie die echtzeitfähige Steuerungssoftware entwickelt.

• Aufnahme von Bauteilen über Vakuum-Pickup-Tool und Ablage in Blister-Gurt
• Taktzeit < 200ms
• Steuerung über Embedded-PC unter Echtzeitbetriebssystem
• Möglichkeit zur digitalen Aufzeichnung und Analyse der mechanischen Bewegung des Pickup-Tools
• Erkennung von Leerstellen über Lichtschranken
• Ansteuerung des Schweissstempels für Deckband
• Kommunikation mit übergeordneter SPS-Steuerung (digital I/O) und Datenanbindung an Host-System (TCP/IP)
• Varianten als Bin-Sorter und Übergabestation

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Zusätze für Waferprober

Für die in der Halbleiterindustrie eingesetzen Standardsysteme zum Wafer-Testen haben wir in der Vergangenheit einer Reihe von Zusatzhardware entwickelt.

• System zur Mikropositionierung von optischen Fasern mit einer Genauigkeit von ±1µm.
  Spezielle Auswerteelektronik zur schnellen Messung der optischen Leistung. Echtzeitfähige Steuerung auf Embedded-Systemen zur aktiven Faserjustage.
• Optische Systeme zur Einkopplung des abgestrahlten Lichts in optische Fasern.
• Elektronik zur zeitoptimierten Durchführung von Kontakttests
• Entwicklung der PC gestützen Messplatz- und Steuerungssoftware

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Sensor-Vermessung (ALBA, IRIS, PREA und andere)

Die Zahl optoelektronischer Sensoren ist rasch steigend. Wir haben bereits für eine ganze Reihe von solchen Sensoren spezielle Messplätze entwickelt und gebaut. Dies setzt eine enge und vertrauensvolle Zusammenarbeit mit unseren Kunden voraus, da wir für unsere Arbeit eine genaue Kenntnis des Aufbaus und der Funktionsweise solcher Sensoren benötigen. Eine strikte Geheimhaltung derartiger Informationen ist für absolutes Gebot.

Die von uns erstellten Anlagen simulieren in der Regel die Einsatzbedingungen und die zu messenden Größen. Aber auch andere Messungen wie Erfassung des Strahlgangs, der EMI-Festigkeit oder des  Temperaturverhaltens werden durchgeführt.

Die Mess-Systeme stellen oft spezielle Anforderungen an die Mechanik, die Betriebssicherheit, die Langzeitstabilität oder an das Bauteilhandling.

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SONET (OC48)

Bei der Vermessung von Lasern und Dioden für die Datenübertragung über Single Mode Fasern mit bis zu 10 Gb/s ergeben sich sehr hohe Anforderungen an die Bauteilaufnahme hinsichtlich der mechanischen, thermischen, elektrischen und optischen Ankopplung. Hier war es notwendig spezielle Prüfaufnahmen zu entwickeln, die reproduzierbare Messungen gewährleisten.

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Puls-Laser (PL90)

Für die optische Abstandsmessung werden Power-Laser mit bis zu 100 W Lichtleistung eingesetzt, die Lichtimpulse von wenigen Nanosekunden aussenden. Dazu sind Ansteuerströme in der Größenordnung von 50 A erforderlich, die extrem schnell und exakt geschaltet werden müssen. Neben der Pulsgenerierung gehört zu diesen Mess-Systemen auch eine entsprechende Einrichtung zur Messung der Lichtleistung in Abhängigkeit zur Zeit. Darüber hinaus sind bezüglich der Stabilität und die Kalibrierbarkeit besondere Anforderungen an das Mess-System gestellt.

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MOST ® Sender und Empfänger (OBIM)

Die Ausstattung der Automobile mit einer wachsenden Zahl von Infotainment-Geräten wie Radio, Telefon, Navigator, CD-Spieler erfordert eine Vernetzung dieser Geräte. Hierzu wurde in enger Zusammenarbeit zwischen Automobil- und Zulieferindustrie der MOST®-Bus entwickelt. Dies ist ein optischer Ring-Bus mit Kunststoff-Lichtwellenleitern.

Für den Test der Sende- und Empfangsbausteine bauen wir spezielle Baugruppen und Testeinrichtungen, mit denen das Schaltverhalten dieser Bauteile überprüft wird. Entscheidend dabei ist die Umsetzung der elektrischen Signale in optische und umgekehrt, ohne deren Zeitverhalten zu verändern.

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Rattle-Factor (RAFA)

Ein Kennlinienmessplatz für konfektionierte Halbleiterlaser wurde für Receptacle-Versionen mit einer Vorrichtung zur Messung der Lichteinkopplung bei gleichzeitigem Rütteln an der Steckverbindung erweitert. Außerdem wird an diesem Messplatz die Augensicherheit geprüft. Um unabhängig von einem evtl. vorhandenen Schielwinkel des Lasers zu sein, erfolgt diese Messung mit Hilfe einer Infrarot-Kamera und Bildauswertung.

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IR-Empfänger (SFH)

Diese Bauelemente, die in vielen mittels IR-Licht fernbedienbaren Geräten eingebaut sind, werden in großen Mengen gefertigt. BAUER Engineering baut für diese Bauteile entsprechende halb- und vollautomatische Messanlagen mit hohem Durchsatz. In diesen Anlagen werden Steuersignale mit einstellbarer Lichtleistung und Frequenz, sowie verschieden starkes Störlicht erzeugt und das Schaltverhalten der Bausteine überprüft.

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